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晶体管图示仪 元器件电性能测试仪 半导体器件失效分析必备-华科智源专业提供

器件失效分析的第一步就是电测,包括静电,I-V曲线描述等等,用来初步定为器件失效的方向,华科智源专业提供SMT首件检测仪,失效分析设备,联系电话 陈经理 13008867918



HUSTEC2005是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6to20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款高效多功能的高端半导体测试设备。
本系统使用方便,只需要通过USB或者RS232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。


基本配置  
   1.测 试 电 压: 0-2KV
   2.测 试 电 流: 0-50A,
     (可扩展到1000A)
   3.电 压分辨率: 1mV
   4.电流 分辨率: 0.1nA            
   5.测 试 精 度: 0.2%+2LSB
   6.测试速度:0.2MS/参数

测试器件的种类
1 双向可控硅(TRIAC)
2 结型场效应管(J-FET )
3 MOS场效应管(Power MOSFET)
4 晶体管(Transistor)
5 绝缘栅双极大功率晶体管(IGBT)
6 达林顿阵列(Darliknton)
7 可控硅整流器(SCR )
8稳压/齐纳二极管(Zener)
9 三端稳压器(REGULATOR )
10 光电耦合器(OPTO-COUPLER)
11 二极管(Diode)
12 双向触发二极管(DIAC)
13 固态过压保护器(SOVP)
14 继电器(RELAY)
曲线测试种类
  ID vs. VDS at range of VGS              ID vs. VGS at fixed VDS
  IS vs. VSD                                        RDS vs. VGS at fixed ID
  IDSS vs. VDS                                   RDS vs. ID at several VGS
  HFE vs. IC                                        BVCE(O,S,R,V) vs. IC
  BVEBO vs. IE                                   BVCBO vs. IC
  VCE(SAT) vs. IC                          VBE(SAT) vs. IC

  VBE(ON) vs. IC                           VCE(SAT) vs. IB


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