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华科智源

HUSTEC-5000 大功率半导体分立器件测试仪

华科智源专业研发生产半导体测试设备,提供大功率IGBT到小功率管的测试,包括动态参数和静态参数测试,雪崩能量测试以及热阻测试,



hustec-5000 半导体分立器件测试系统


                  基础配置:

技术参数

HUSTEC-5000

主极电流

100nA-50A

扩展电流

100A、500A、1000A、1300A

电压分辨率

1mV

电流分辨率

1nA(可扩展至10pA)

测试精度

0.2%+2LSB

测试速度

0。5mS/参数

测试参数:

漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、     IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
                BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS、
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
                IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO    (Regulator)、IIN(Regulator)
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
关断参数:VGSOFF     
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-

系统特征:

● 测试范围广(19大类,27分类)
●升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
● 采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定的300uS
● 被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏
● 真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际值偏差很大)
● 系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障


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