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ITC57300动态参数测试系统报价价格

ITC57300动态参数测试系统主机可执行非破坏性的瞬态测量测试,包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管(IGBT),功率MOSFET,二极管,双极型器件的测试头。主机包括所有测试设备和必要的软件分析,可执行电阻和电感的开关时间,开关损耗,栅极电荷,TRR /的Qrr和其他瞬态测试。



ITC57300动态参数测试系统主机可执行非破坏性的瞬态测量测试,包括对半导体器件绝缘栅双极晶体管(IGBT),功率MOSFET,二极管,双极型器件的测试头。主机包括所有测试设备和必要的软件分析,可执行电阻和电感的开关时间,开关损耗,栅极电荷,TRR /的Qrr和其他瞬态测试。

能力
  • 测试电压:最大1200 VDC 200(短路电流可达1000A)
  • 定时测量:最低为1 ns
  • 漏电流限制监视器
选项
  • 额外的电源供应器
  • 额外的测试头
  • 大包装适配器
测试头
  • ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET,MIL-STD-750方法3472开关时间
  • ITC57220 - TRR /电源,MOSFET和二极管的Qrr,MIL-STD-750方法,3473
  • ITC57230 - 栅极电荷功率MOSFET,MIL-STD-750方法3471
  • ITC57240 - 电感式开关时间为IGBT,MIL-STD 750方法3477
  • ITC57250 - (ISC)短路耐受时间,MIL-STD-750方法3479
系统特点
  • 很容易改变的测试头
  • 在不同参数的自动化测试
  • 坚固耐用的PC兼容计算机
  • 用户友好的菜单驱动软件
  • 可编程测试出纸槽
  • 电子表格兼容的测试数据
  • 可选内部电感负载
  • GPIB可编程测试设备
  • 四通道高带宽数字示波器
  • 脉冲发生器
  • 1200V电源
安全特性
  • 测试头高电压互锁
  • 接收端的高电压互锁
  • 高速漏极供电开关

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